離子遷移試驗(yàn)裝置：高壓、高速、高精度，引*離子遷移測試新標(biāo)準(zhǔn)

  2026年重磅發(fā)布 – 在離子遷移測試領(lǐng)域，測試速度、電壓能力與通道效率往往是用戶最關(guān)注的三大核心指標(biāo)。為滿足更高標(biāo)準(zhǔn)的研發(fā)與質(zhì)量控制需求，J-RAS 正式推出全新的 ECMr-500 系列離子遷移試驗(yàn)裝置，一款融合兩大經(jīng)典機(jī)型技術(shù)優(yōu)勢、兼具高電壓與高采樣效率的新一代整合型設(shè)備。

 

 主要優(yōu)勢速覽

 最高 500V 電壓施加能力，滿足更高耐壓要求的遷移測試  

 16ms 高速同步采樣，全通道并行數(shù)據(jù)采集無延遲  

 高邊測量方式，大幅簡化樣品連接，提升測試效率與可靠性

 

 產(chǎn)品定位：整合創(chuàng)新，性能躍升

 ECMr-500 系列是 J-RAS 在離子遷移測試領(lǐng)域的技術(shù)集大成者。它融合了前代機(jī)型 ECM-100 的全通道高速同步采樣能力 與 ECM-500 的 500V 高電壓施加能力，真正實(shí)現(xiàn)了一機(jī)多能、性能不妥協(xié)的設(shè)計(jì)理念。

無論是用于 PCB、半導(dǎo)體、封裝材料，還是其他高絕緣材料的離子遷移測試，ECMr-500 都能提供穩(wěn)定、精準(zhǔn)、可追溯的測試數(shù)據(jù)。

 

 核心技術(shù)參數(shù)一覽

 

 機(jī)箱型號(hào)與規(guī)格

 40CH 機(jī)箱：ECMr-500/40-n，最多安裝 4 個(gè)測量單元  

 100CH 機(jī)箱：ECMr-500/100-n，最多安裝 10 個(gè)測量單元  

 

 直流偏置電壓

 電壓量程：2 檔（1.0～30.0V / 30.1～500.0V）  

 設(shè)定分辨率：0.1V  

 設(shè)定精度：±（0.3%（F.S.）+ 0.5）V  

 最大輸出電流：700μA/CH  

 

 電流測量

 

 測量方式：通道獨(dú)立高邊電流測量  

 測量量程：5 檔（500μA / 50μA / 2.5μA / 125nA / 6.25nA）  

 測量分辨率：*低 1pA，顯示 4 位有效數(shù)字  

 測量速度：16ms / 10CH  

 

 數(shù)據(jù)記錄與控制

 

 測試時(shí)間：1 分鐘 ～ 9999 小時(shí)  

 記錄間隔：*低 16ms（ECM 模式）  

 記錄媒介：CF 卡  

 通信接口：Ethernet ×1、RS232C ×2  

 安全控制：無電壓接點(diǎn)輸入 ×4（互鎖/緊急停止）  

 

 適用場景與用戶價(jià)值

 ECMr-500 系列特別適用于以下應(yīng)用場景：

 

 高電壓離子遷移測試（如汽車電子、功率模塊、高密度封裝）  

 多通道并行測試（如材料篩選、長期可靠性評估）  

 環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)測試（溫濕度偏壓組合測試）  

 其高邊測量設(shè)計(jì)顯著降低了樣品接線的復(fù)雜度，支持通道單獨(dú)設(shè)定電壓與量程，極大提升了測試靈活性與效率。

 

 總結(jié)：為下一代電子可靠性而生

 

  J-RAS ECMr-500 系列不僅是一款離子遷移試驗(yàn)裝置，更是一套面向未來電子元器件可靠性驗(yàn)證的高性能平臺(tái)。它以 500V 高壓能力、16ms 高速采樣、最多100通道的擴(kuò)展能力，為研發(fā)與質(zhì)檢工程師提供了前*未有的測試自由度與數(shù)據(jù)精度。

 

如需了解更多產(chǎn)品信息、技術(shù)參數(shù)或樣機(jī)試用，歡迎聯(lián)系我們獲取詳細(xì)資料與技術(shù)支持。